TÍNH NĂNG CHÍNH
- 5 Chế độ Hình ảnh trong 1 Kính hiển vi: Giao thoa, Tiêu điểm, Trường tối, Trường sáng, Điều chỉnh tiêu cự.
- Dòng UP cung cấp các phép đo bề mặt không tiếp xúc từ nano đến micro và kết hợp năm chế độ hình ảnh trong một đầu để đặc trưng hóa mọi loại bề mặt. Chỉ cần một cú nhấp chuột, máy đo độ sâu bề mặt sẽ tự động chuyển đổi giữa các chế độ hình ảnh khác nhau.
- Tốc độ Quét Nhanh: Hình ảnh màu có độ phân giải cao.
- Thiết bị đo độ sâu bề mặt được trang bị các camera thế hệ mới nhất cho phép quét bề mặt với tốc độ cao. Tốc độ camera cho phép bao phủ các khu vực lớn và ghép nối nhanh chóng.
- Tự động hóa hoàn toàn
- Bề mặt mẫu được quét chỉ với một cú nhấp chuột và một báo cáo kiểm tra tự động theo định dạng tiêu chuẩn được tạo ra dễ dàng.
- Nền tảng Thân thiện với Người dùng: Giải pháp tiết kiệm chi phí
- Thiết kế bệ đỡ tích hợp với các bộ mã hóa độ phân giải cao.
- Bàn trượt XY con lăn chéo cho phép đo lường độ chính xác.
BỆ ĐỠ MẪU:
UP-5000
UP-3000
UP-2000
Trường sáng và trường tối
X
X
Đĩa quay đồng tiêu
X
X
Giao thoa ánh sáng trắng
X
X
X
Thay đổi tiêu cự
X
X
Ghép nối hình ảnh 3D
X
X
X
Đo độ phản xạ quang phổ
X
AFM
X
Kính hiển vi Raman
X
Bệ đỡ XYZ
300 x 300 x 150 mm
150 x 200 x 150 mm
150 x 200 x 150 mm
PHẦN MỀM & CÔNG CỤ PHÂN TÍCH
Dòng thiết bị UP được thiết kế với các tiêu chuẩn thử nghiệm cụ thể để đảm bảo tính truy xuất nguồn gốc dữ liệu và kiểm tra nền tảng nhanh chóng. Các thiết bị này đi kèm với các công thức thử nghiệm chuẩn để đảm bảo quá trình thử nghiệm được chuẩn hóa.
- Hình ảnh thời gian thực của hình ảnh bề mặt 3D.
- Phủ màu và hình ảnh cường độ lên hình ảnh 3D.
- Xử lý các hiện vật dữ liệu thu thập được, như các điểm dị thường và khuyết điểm cục bộ.
- Đo độ nhám và kết cấu bề mặt theo các tiêu chuẩn ISO và tiêu chuẩn quốc gia mới nhất.
- Trích xuất và phân tích các vùng quan tâm (Page viewer để điều hướng nhanh chóng).
- Các module phân tích kết cấu bề mặt nâng cao, phân tích đường viền, hạt, và phân tích hạt, phân tích Fourier 3D, đồng vị ảnh, thống kê, và nhiều hơn nữa.
- Tạo báo cáo phân tích bề mặt nhanh chóng, tự động và có khả năng truy xuất.
- Tiêu chí pass/fail với đèn tín hiệu xanh/đỏ có thể được xác định cho bất kỳ thông số nào.
- Chuỗi đo lường có thể được phân tích tự động bằng cách sử dụng các mẫu và tài liệu nhỏ (mini-docs) cho các bước phân tích thông thường.
- Xuất dữ liệu toàn diện: PDF, RTF, bitmap chất lượng màn hình và in ấn, kết quả số tương thích với Excel để đảm bảo tính tương thích với hệ thống quản lý chất lượng và các hệ thống khác.
- Tích hợp với phần mềm Mountains Map.
THÔNG SỐ KỸ THUẬT:
- Vật kính giao thoa
Mục tiêu
2.5X
5X
10X
20X
50X
100X
Khẩu độ số (NA)
0.075
0.13
0.3
0.4
0.55
0.7
Khoảng cách làm việc (mm)
10.3
9.3
7.4
4.7
3.4
2.0
FOV (um)
6910 x 5180
3460 x 2590
1730 x 1300
860 x 650
350 x 260
170 x 130
Độ phân giải quang học (L&S 460 nm) (μm)
1.87
1.08
0.47
0.35
0.26
0.20
Độ phân giải dọc
Tốt hơn 0.01nm
Độ lặp lại RMS dọc
Tốt hơn 0.01nm
- Vật kính đồng tiêu, trường sáng, trường tối
Khoảng cách làm việc tiêu chuẩn
Khoảng cách làm việc dài
5X
10X
20X
50X
100X
150X
20X
50X
100X
Khẩu độ số (NA)
0.15
0.3
0.45
0.8
0.9
0.95
0.4
0.6
0.8
Khoảng cách làm việc (mm)
23.5
17.5
4.5
1.0
1.0
0.3
19
11
4.5
Trường nhìn (um)
3460 x 2590
1730 x 1300
860 x 650
350 x 260
170 x 130
120 x 90
860 x 650
350 x 260
170 x 130
Độ phân giải quang học (L&S 460 nm) (μm)
0.94
0.47
0.31
0.18
0.16
0.15
0.35
0.23
0.18
Độ phân giải dọc
72.0
18.0
8.0
2.5
2.0
1.8
10.1
4.5
2.5
