MODEL: XRF-2020R TYPE H
ĐẶC ĐIỂM NỔI BẬT
- Phân tích nhanh và không phá hủy nhiều nguyên tố từ 1ppm đến 100wt%
- Không cần chuẩn bị mẫu cho các dạng rắn, lỏng, bột, phim, lớp phủ, hình dạng không đều, hạt
- Phương pháp FP: Phân tích vật liệu định tính lên đến 20 nguyên tố mà không cần chuẩn bị mẫu
- Hệ thống định vị bằng laser tập trung
- Giao diện thân thiện với người dùng, phần mềm dễ sử dụng
- Hoàn toàn tuân thủ RoHS, WEEE, ELV, tối ưu hóa ứng dụng
- Phương pháp hiệu chuẩn: Phân tích định lượng vật liệu với hiệu chuẩn tiêu chuẩn
THÔNG SỐ KỸ THUẬT
Kích thước buồng
610 x 670 x 490 (W x D x H) (mm)
Kích thước bàn điều khiển
220 x 170 x 110 (W x D x H) (mm)
Trọng lượng
75Kg (khối lượng tịnh)
Hệ thống lọc
5 bộ lọc với hệ thống thay bộ lọc tự động
Hệ thống bộ ống chuẩn trực
Từ 0.1mm đến 3mm, tối đa 6 loại với hệ thống thay đổi ống chuẩn trực.
Đầu dò X-quang
Đầu dò bán dẫn silicon làm mát bằng điện tử Peltier (diode PIN)
Hệ thống video
Camera CCD màu, độ phóng đại khoảng 20X tùy thuộc vào kích thước màn hình hoặc 100X (tùy chọn)
Mẫu phân tích
Chất rắn, chất lỏng & bột
Phạm vi phát hiện
Từ Al(13) đến U(92) 1ppm – 100wt% MDL: 1 ppm
An toàn phóng xạ
Hệ thống bảo vệ hoàn toàn, tự động tắt an toàn liên quan đến cảm biến cửa, cảm biến cửa chắn, được thiết kế đảm bảo an toàn tia X
Nguồn cung cấp chính
Nguồn điện AC 110/220V 50/60Hz
Xử lý phổ
MCA, Xử lý xung kỹ thuật số
Tự động nhận diện đỉnh phổ
Hệ thống điều khiển
Máy tính để bàn hoặc máy tính xách tay với MS Windows
Đầu ra dữ liệu
MS-EXCEL hoặc HTML hoặc định dạng cơ sở dữ liệu, báo cáo có thể tùy chỉnh
ỨNG DỤNG
- Ứng dụng phân tích kim loại quý (Vàng, Bạc, Bạch kim và các loại trang sức khác)
- Ứng dụng đo độ dày lớp mạ mỏng hoặc lớp mạ đa lớp phức tạp
- Ứng dụng phân tích các nguyên tố khác mà khách hàng quan tâm
